蔡司推出全新FIB雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab

　　作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè) TEM 樣品制備開(kāi)發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)Crossbeam 550 Samplefab 提供優(yōu)異的靈活性自動(dòng)化功能和用戶友好設(shè)計(jì)，幫助半導(dǎo)體行業(yè)的樣品制備更加簡(jiǎn)便高效。

　　全新界面

　　用戶友好的軟件操作體驗(yàn)

　　配備直觀的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)圖形用戶界面

　　軟件功能模塊高度整合，輕松上手

　　無(wú)論是專家還是新手，都能擁有友好的操作體驗(yàn)

　　配置優(yōu)化

　　提升設(shè)備和軟件的穩(wěn)定性

　　專門為半導(dǎo)體行業(yè) TEM 樣品制備而優(yōu)化的配置方案

　　提高了設(shè)備和軟件的穩(wěn)定性

　　確保樣品制備的持續(xù)穩(wěn)定工作，提高實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)出

　　全新體驗(yàn)

　　全自動(dòng)TEM樣品制備流程

　　蔡司雙束電鏡 Crossbeam 550 Samplefab

　　提供了全自動(dòng)解決方案

　　實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守的多點(diǎn)位TEM薄片制備

　　旨在優(yōu)化工作流程，一位操作員即可控制多臺(tái)設(shè)備

　　最大化生產(chǎn)力并確保樣品質(zhì)量

　　多樣制備

　　滿足原位/非原位樣品需求

　　具備強(qiáng)大的原位(in-situ,lift-out)與

　　非原位(ex-situ,pick-up)樣品全自動(dòng)制備能力

　　適應(yīng)各種制樣方法的多樣需求

　　靈活操作

　　自由選擇手動(dòng)/自動(dòng)制樣

　　既支持手動(dòng)操作也支持自動(dòng)操作，適應(yīng)用戶偏好在手動(dòng)或自動(dòng)工作流程中均能提供高質(zhì)量結(jié)果。

　　憑借其優(yōu)異的靈活性、自動(dòng)化制樣功能以及用戶友好設(shè)計(jì)和穩(wěn)定性,蔡司掃描電鏡 Crossbeam 550 Samplefab 將顯著　提高半導(dǎo)體樣品制備的效率與精度,幫助工程師完成日常的高產(chǎn)量 TEM 薄片樣品制備。

　　蔡司致力于通過(guò)創(chuàng)新的技術(shù)解決方案，不斷推動(dòng)半導(dǎo)體行業(yè)邁向更高效、更精確的樣品制備新時(shí)代。

昆山友碩新材料有限公司是蔡司中國(guó)代理，主要經(jīng)營(yíng)蔡司三坐標(biāo)、蔡司掃描電鏡、蔡司工業(yè)CT等。電話熱線：15262626897